半導體顯示行業遭遇凜冬侵襲，企業需要利用新技術進一步促進產線技術能力提升。 華星光電作為全球面板顯示領域的領軍企業，在品質檢測環節有極致追求。傳統的AOI（自動光學檢測）設備可以鎖定產品缺陷和自動拍照，但檢測人員依據經驗規則對缺陷進行分類判定，存在偏差浮動大、檢測效率低、勞動強度高、人力成本高等挑戰。
格創東智打造的人工智能自動缺陷分類系統（ADC），是國內半導體顯示行業第一個真正落地的人工智能應用。ADC系統利用大數據、AI深度學習、機器視覺等最新技術，將產品圖像與已知缺陷圖像庫進行比對，通過先進的算法模型，智能檢測缺陷種類，自動分析異常并給出解決方案。通過該系統與現有檢驗流程的集成，還能夠迅速啟動和運行該解決方案。
